Skocz do zawartości
Forum Kopalni Wiedzy

Znajdź zawartość

Wyświetlanie wyników dla tagów ' Galaxy' .



Więcej opcji wyszukiwania

  • Wyszukaj za pomocą tagów

    Wpisz tagi, oddzielając je przecinkami.
  • Wyszukaj przy użyciu nazwy użytkownika

Typ zawartości


Forum

  • Nasza społeczność
    • Sprawy administracyjne i inne
    • Luźne gatki
  • Komentarze do wiadomości
    • Medycyna
    • Technologia
    • Psychologia
    • Zdrowie i uroda
    • Bezpieczeństwo IT
    • Nauki przyrodnicze
    • Astronomia i fizyka
    • Humanistyka
    • Ciekawostki
  • Artykuły
    • Artykuły
  • Inne
    • Wywiady
    • Książki

Szukaj wyników w...

Znajdź wyniki, które zawierają...


Data utworzenia

  • Od tej daty

    Do tej daty


Ostatnia aktualizacja

  • Od tej daty

    Do tej daty


Filtruj po ilości...

Dołączył

  • Od tej daty

    Do tej daty


Grupa podstawowa


Adres URL


Skype


ICQ


Jabber


MSN


AIM


Yahoo


Lokalizacja


Zainteresowania

Znaleziono 1 wynik

  1. Samsung rozpoczął publikację łatek dla sześciu krytycznych dziur znalezionych w jego flagowych smartfonach z Androidem. Dziury pozwalają na przeprowadzenie wielu różnych ataków, od zdalnego wykonania złośliwego kodu po doprowadzenie do błędu przepełnienia bufora. O istnieniu błędów poinformowano w April Android Security Bulletin wydawanym przez Google'a. W sumie Samsung załatał 27 dziur, z których 21 uznano za groźne. Wspomniane na wstępie 5 krytycznych dziur jest związanych z obsługą procedorów Snapdragon oraz z platformą Snapdragon Wear i Snapdragon Automotive. Luki występują w telefonach Galaxy S8, Galaxy S9 i Galaxy Note 8. Jedna z luk pozwala napastnikowi na wykorzystanie specjalnie spreparowanego pliku do wykonania dowolnego kodu w kontekście uprzywilejowanego procesu. W indeksie CVSS dziura ta otrzymała aż 9,8 punktu. Identycznie oceniona luka, powodująca niewłaściwą kontrolę dostępu podczas konfigurowania jednostki korekcji błędów MPU może prowadzić do ujawnienia poufnych danych. Błąd ten jest ciągle analizowany. Jeszcze inny błąd występuje w module weryfikacyjnym Elliptic Curve Digital Signature Algorithm (ECDSA). Eksperci ostrzegają, że w pewnych przypadkach na platformach Snapdragon Automobile, Snapdragon Mobile i Snapdragon Wear może dojść do błędu weryfikacji. Interesującym błędem jest też dziura typu „peek and poke”. Ten typ luki, znany od lat 80. ubiegłego wieku, daje napastnikowi dostęp do konkretnego adresu pamięci i możliwość zmiany znajdujących się tam danych. « powrót do artykułu
×
×
  • Dodaj nową pozycję...