Skocz do zawartości
Forum Kopalni Wiedzy

Rekomendowane odpowiedzi

Samsung rozpoczął publikację łatek dla sześciu krytycznych dziur znalezionych w jego flagowych smartfonach z Androidem. Dziury pozwalają na przeprowadzenie wielu różnych ataków, od zdalnego wykonania złośliwego kodu po doprowadzenie do błędu przepełnienia bufora. O istnieniu błędów poinformowano w April Android Security Bulletin wydawanym przez Google'a.

W sumie Samsung załatał 27 dziur, z których 21 uznano za groźne. Wspomniane na wstępie 5 krytycznych dziur jest związanych z obsługą procedorów Snapdragon oraz z platformą Snapdragon Wear i Snapdragon Automotive. Luki występują w telefonach Galaxy S8, Galaxy S9 i Galaxy Note 8.

Jedna z luk pozwala napastnikowi na wykorzystanie specjalnie spreparowanego pliku do wykonania dowolnego kodu w kontekście uprzywilejowanego procesu. W indeksie CVSS dziura ta otrzymała aż 9,8 punktu. Identycznie oceniona luka, powodująca niewłaściwą kontrolę dostępu podczas konfigurowania jednostki korekcji błędów MPU może prowadzić do ujawnienia poufnych danych. Błąd ten jest ciągle analizowany.

Jeszcze inny błąd występuje w module weryfikacyjnym Elliptic Curve Digital Signature Algorithm (ECDSA). Eksperci ostrzegają, że w pewnych przypadkach na platformach Snapdragon Automobile, Snapdragon Mobile i Snapdragon Wear może dojść do błędu weryfikacji.

Interesującym błędem jest też dziura typu „peek and poke”. Ten typ luki, znany od lat 80. ubiegłego wieku, daje napastnikowi dostęp do konkretnego adresu pamięci i możliwość zmiany znajdujących się tam danych.


« powrót do artykułu

Udostępnij tę odpowiedź


Odnośnik do odpowiedzi
Udostępnij na innych stronach

Jeśli chcesz dodać odpowiedź, zaloguj się lub zarejestruj nowe konto

Jedynie zarejestrowani użytkownicy mogą komentować zawartość tej strony.

Zarejestruj nowe konto

Załóż nowe konto. To bardzo proste!

Zarejestruj się

Zaloguj się

Posiadasz już konto? Zaloguj się poniżej.

Zaloguj się

×